吳添立教授攜手全球測試與量測領導企業是德科技，正式成立 「半導體可靠度創新研發中心」 👉 WISER Center（ W Lab I nnovation SE miconductor R eliability Center） 本中心致力於結合創新可靠度評估方法與失效機制解析，建立以「可靠度為核心導向」的半導體元件與積體電路設計與製程優化策略，突破前瞻半導體在產品化過程中最關鍵的可靠度驗證瓶頸，全面提升系統與產品的長期穩定性與可靠性。 🔬 合作亮點與核心能量 🧪 國際級量測設備全面到位 WISER 中心以是德科技 Precision Current-Voltage Analyzer 系列為核心，完整導入： B1500A 半導體元件參數分析儀 B1505A 功率元件分析儀 DSOX6004A 示波器／訊號產生器 WGFMU／SPGU／N1267A 脈衝模組 CMU／N1260A 電容量測模組打造符合 IEC／JEDEC 國際標準的先進可靠度量測環境。 📊 多面向可靠度測試能力 支援完整的元件到電路層級量測，包括： 靜態 / 動態 I–V、C–

從 SiC  到 Power GaN ，再到 RF GaN  與 Ferroelectric  元件可靠度，WLab 長期專注於可靠度研究。我們持續探索 創新的可靠度測試方法  與 背後的劣化/失效機制 ，目標是提出可行策略，改善次世代化合物半導體與新興記憶體元件的可靠度限制。 📣 好消息！ WLab 共 6 篇論文  獲 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)  接受，主題橫跨：• SiC • Power GaN • RF GaN • Ferroelectric technologies 這不僅是 WLab 歷年在 IRPS 最多的一次接受數量 ，也首次在同一屆 IRPS 系統性呈現 SiC / GaN / 鐵電元件可靠度分析  的研究成果。 🔍 為什麼 IRPS 重要？ IRPS 是半導體可靠度與失效物理領域最具指標性的國際研討會之一，涵蓋從 材料、製程、元件到系統  的可靠度議題（CMOS、記憶體、SiC、GaN、RF、先進封裝等）。更關鍵的是，IRPS

吳添立教授榮獲 2025 年國立陽明交通大學電機學院教學獎 ，以表彰其在教學上的卓越成就。吳教授積極推動全英語授課，開設「 半導體物理與元件 」、「 半導體元件可靠度與失效物理 」及實驗導向課程「高功率元件電性測量技術與實驗」等課程，不僅傳授專業知識，更著重啟發學生的國際視...

吳添立教授受邀參與 2025年IEEE國際微波研討會 （IEEE MTT-S International Microwave Symposium, IMS）所舉辦之專題工作坊 「GaN/Si：FR3應用的推進者？」 （ GaN/Si: an Enabler for FR3...

我們很高興能與 NVIDIAAIDev 合作，利用人工智慧(AI)加速半導體元件設計，為 AI 驅動的半導體研究未來盡一份心力。 在邁出這令人振奮的一步的同時，我們也正在招募熱情的 資訊/資工相關領域人才 加入我們的團隊！如果你渴望在 AI/ML...

WLab 參與台德半導體 NSTC-DFG 合作計畫「鐵電 FinFET 於新興記憶體與類腦運算應用之開發與可靠性提升」。 本計畫由台灣的 國立陽明交通大學 (NYCU)（主持人：吳添立教授/共同主持人：林群雄教授）、德國弗萊貝格工業大學...

吳添立教授受邀至2025 VLSI-TSA分享化合物半導體正逐漸改變AI server的電源供應及如何使用AI優化化合物半導體元件設計及特性。 https://expo.itri.org.tw/2025VLSITSA/Program/SessionView/SpecialS...

恭喜WLab黃詠姍及王珮榕同學以應用於電動車的材料元件開發，獲得今年 LAM RESEARCH科林研發傑出女性科技獎學金之殊榮! #WLab #Award #Semiconductor 相關報導: https://www.nycu.edu.tw/nycu/ch/app/n...

吳添立教授團隊WLab參與2024 IEDMS，獲得IEDMS金獎/銀獎/海報獎等數個獎項。 IEDMS 金獎 : H.-J. Ho, Y.-C. Chen, and T.-L. Wu, " Demonstration of High Voltage (>2000V)...

2024吳大猷先生紀念獎專輯:吳添立教授研究成果介紹