共建 WISER 半導體可靠度創新研發中心，強化下世代半導體研發能量

吳添立教授攜手全球測試與量測領導企業是德科技，正式成立「半導體可靠度創新研發中心」👉 WISER Center（WLab Innovation SEmiconductor Reliability Center）

本中心致力於結合創新可靠度評估方法與失效機制解析，建立以「可靠度為核心導向」的半導體元件與積體電路設計與製程優化策略，突破前瞻半導體在產品化過程中最關鍵的可靠度驗證瓶頸，全面提升系統與產品的長期穩定性與可靠性。

🔬 合作亮點與核心能量

🧪 國際級量測設備全面到位

WISER 中心以是德科技 Precision Current-Voltage Analyzer 系列為核心，完整導入：

• B1500A 半導體元件參數分析儀

• B1505A 功率元件分析儀

• DSOX6004A 示波器／訊號產生器

• WGFMU／SPGU／N1267A 脈衝模組

• CMU／N1260A 電容量測模組打造符合 IEC／JEDEC 國際標準的先進可靠度量測環境。

📊 多面向可靠度測試能力

支援完整的元件到電路層級量測，包括：

• 靜態 / 動態 I–V、C–V

• 快速脈衝與時間依存性量測

• BTI、TDDB、動態 RON、動態 Vth

• 鐵電記憶體可靠度

• 電路等級與高低溫操作條件下之可靠度評估

並結合材料與元件失效機制分析，提出可靠度導向的元件設計與製程改善方案，全面支援邏輯、記憶體與化合物高頻／高功率半導體的研發全流程。

⚙️ 自動化 × 高效率

搭配是德科技 EasyEXPERT group+ 自動化量測與分析軟體：

• 依照國際標準自動萃取關鍵參數

• 大幅提升測試效率

• 降低人為誤差，確保數據一致性與可重現性

🔥 極端環境可靠度驗證

整合高溫載台與高溫烤箱，可進行：

• 加速壽命測試

• 極端環境模擬

• 高溫偏壓與長時間應力驗證深入探究可靠度極限與失效物理機制。

🚀 前瞻研究方向

🔹 半導體元件與電路可靠度強化

研究涵蓋：

• 二維材料與氧化物薄膜電晶體

• 鐵電記憶體

• 化合物(GaN、SiC、Ga₂O₃ )功率元件

• 氮化鎵(GaN)高頻電晶體

並延伸至：

• 邏輯與記憶體電路

• 高功率電力電子

• 高頻通訊

• 太空與極端環境應用

確保新世代半導體技術能滿足產品等級的高品質與長期可靠性需求。

🤖 人工智慧導入可靠度優化

WISER 中心亦將導入 AI 技術於：

• 元件特性分析

• 可靠度行為建模

• 壽命與失效預測

透過 AI-assisted 預測與優化模型，加速設計決策、縮短開發週期，推動前瞻半導體技術更快速邁向產業化與實際應用。

📌 WISER Center 將成為學研與產業接軌的重要平台，持續為台灣在下世代半導體可靠度與高端量測領域注入關鍵創新動能。